Accès ouvert
3D Simulation and Optimization of Characteristics of Al0.1Ga0.9N/In0.2Ga0.8N High Electron Mobility Transistor with B0.03Ga0.97N Back-Barrier Layer
Résumé
Citer ce document
Bechlaghem, F., Hamdoune, A.
(2021). 3D Simulation and Optimization of Characteristics of Al0.1Ga0.9N/In0.2Ga0.8N High Electron Mobility Transistor with B0.03Ga0.97N Back-Barrier Layer.
https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-370364/v1
Accès au document
Voir sur le dépôt sourceCe document est hébergé sur son dépôt institutionnel d'origine.
Auteur(s)
Statistiques
Consultations : 1
Téléchargements : 0