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Review of: "Negative Capacitance Effect at the Interface Between Si Wafers with Undulating Surfaces"

Article scientifique 2025 Anglais

Résumé

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Khaldi, O. (2025). Review of: "Negative Capacitance Effect at the Interface Between Si Wafers with Undulating Surfaces". https://doi.org/10.32388/iycjhs

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Auteur(s)

O. Khaldi

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