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Genome-wide association mapping for resistance against Septoria nodorum blotch and tan spot in a diverse wheat panel

Article scientifique 2025 Anglais

Résumé

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Wang, D., He, X., Deng, Z., Reynolds, M., Dreisigacker, S., Singh, P. (2025). Genome-wide association mapping for resistance against Septoria nodorum blotch and tan spot in a diverse wheat panel. https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-6370929/v1

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Auteur(s)

Dehua Wang Xinyao He Zhiying Deng Matthew Reynolds Susanne Dreisigacker P. K. Singh

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