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Effect of Cu Incorporation on Optoelectronic Properties of e-Beam Evaporated ZnO thin Films by Ellipsometric Investigations

Article scientifique 2021 Anglais

Résumé

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Ali, G., Moustafa, S., Amer, M., Shaban, H., Emam-Ismail, M., Shaaban, E., El-Hagary, M. (2021). Effect of Cu Incorporation on Optoelectronic Properties of e-Beam Evaporated ZnO thin Films by Ellipsometric Investigations. https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-294805/v1

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Auteur(s)

Gharieb A. Ali S.H. Moustafa M.I. Amer H. Shaban M. Emam-Ismail E.R. Shaaban M. El-Hagary

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