Accès ouvert

Scanning Electron Microscopy-Based Characterization of Moisture-Dependent Physical and Geometric Properties of Teff (Eragrostis tef) Grains

Article scientifique 2026 Autre

Résumé

Citer ce document

Boset, L. (2026). Scanning Electron Microscopy-Based Characterization of Moisture-Dependent Physical and Geometric Properties of Teff (Eragrostis tef) Grains. https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-10619856/v1

Accès au document

Texte intégral en lecture en ligne, réservé aux abonnés SPHAERO et aux membres de l'institution. Se connecter

Voir l'article sur le site de la revue

Auteur(s)

Lemi Demissie Boset

Statistiques

Consultations : 1

Téléchargements : 0